老化测试系统

芯片在长期使用过程中,由于温度、湿度、电压等环境因素的不稳定性,可能导致芯片内部电子元件发生性能退化,甚至引发失效等现象。态坦老化测试系统旨在模拟多种极端环境,长时间运行芯片并监测其性能指标的变化,来评估芯片可靠性和性能稳定性。因此,老化测试设备是半导体制造领域中不可或缺的关键设备,它对于保障芯片的可靠性和提升整个行业的质量标准具有至关重要的作用。

TB7500 系列
TB7300 系列
TB3300 系列