TB7500 系列

高集成性高速测试的量产方案

TB7500为针对DRAM的量产老化测试系统，可支持DDR3/4/5和LPDDR4/5等器件。最高测试速率为200MHz/400Mbps，支持最大48块老化板并行测试。

特征：

高并测数：单台整机最高支持18432颗粒（384DUT x 48slot），集成度高。

极致温箱性能：

匹配DRAM的温度特性，拥有极致的温度均匀性性能。同时支持快速升降温，可有效提升量产效率。

高度自动化：

支持BIB自动插拔和温箱自动门，可应用于无人化工厂。