TB3300 系列
支持高低温的存储器高速老化测试方案
TB3302完成了多次迭代，是一款支持在高低温环境下，能够稳定高效完成高密度高速的存储器老化生产测试解决方案，支持2.4Gbps NAND的全速接口的高低温老化测试，设备兼容性强，可通过快速更换板卡兼容各类芯片，灵活完成UFS、eMMC、BGA-SSD、eMCP、ePOP等大功率器件的全速接口老化测试，极大提高了生产测试效率。
TB3302完成了多次迭代，是一款支持在高低温环境下，能够稳定高效完成高密度高速的存储器老化生产测试解决方案，支持2.4Gbps NAND的全速接口的高低温老化测试，设备兼容性强，可通过快速更换板卡兼容各类芯片，灵活完成UFS、eMMC、BGA-SSD、eMCP、ePOP等大功率器件的全速接口老化测试，极大提高了生产测试效率。