TB7300 系列

全新ATE架构下的通用型低速老化测试系统

TB7300为多种存储器设计的量产老化测试系统。最高测试速率为10 MHz，支持最大48块老化板并行测试，支持BIB自动插拔，支持更大的电源供电能力和IO信号通道数量。

同时温箱支持最大7kw的热负载能力，同时支持快速升降温，缩短了测试时间，有效提升量产效率。