系统级测试系统

系统级测试（System Level Test, SLT）是半导体测试流程中的关键环节，它通过在仿真实际使用环境中验证芯片的功能，无需传统ATE的测试向量。SLT 通过运行系统软件来检查芯片的各个模块，提供了更加贴近真实应用场景的测试方法。SLT 的显著优势在于其能够揭示在传统的ATE测试中可能被忽略的故障，特别是在处理复杂系统级芯片（SoC）和系统级封装时。随着半导体技术的不断进步和产品质量要求的日益提高，SLT 的应用变得越来越广泛，其在确保芯片质量和可靠性方面的作用愈发突出。