产品&解决方案-态坦测试官网

TB7500系列

高集成性高速测试的量产方案

针对DRAM颗粒的量产老化测试系统，最高测试速率为200 MHz/400Mbps

态坦 TL2910系列

高速和大并测的SLT测试机

支持高UPH高测试频率的LPDDR SLT测试设备，内置态坦自研的丰富测试Pattern库

TB7300系列

全新ATE架构下的通用型低速老化测试系统

TS1930系列

全新一站式Gen5 SSD全功能测试系统

PCIe5.0 SSD测试系统方案，支持消费级/企业级 256DUT SSD量产生产测试。

ATE测试系统

Automatic Test Equipment (ATE) 芯片测试设备是一类先进的自动化系统，在芯片制造的各个关键阶段扮演着不可或缺的角色，专门用于对半导体芯片进行细致的功能、性能和质量验证。这些系统通过向芯片的输入接口施加精确的激励信号，并同步监控输出引脚的反应，以验证输出信号是否符合预定的参数。 ATE 系统的核心目标是在芯片出厂前对其进行严格的测试，确保每一颗芯片均符合严格的设计规范和客户要求。通过这种方式，ATE 不仅保障了产品的可靠性，也提高了整个半导体产业的制造效率和质量标准。

老化测试系统

芯片在长期使用过程中，由于温度、湿度、电压等环境因素的不稳定性，可能导致芯片内部电子元件发生性能退化，甚至引发失效等现象。态坦老化测试系统旨在模拟多种极端环境，长时间运行芯片并监测其性能指标的变化，来评估芯片可靠性和性能稳定性。因此，老化测试设备是半导体制造领域中不可或缺的关键设备，它对于保障芯片的可靠性和提升整个行业的质量标准具有至关重要的作用。

系统级测试系统

系统级测试（System Level Test, SLT）是半导体测试流程中的关键环节，它通过在仿真实际使用环境中验证芯片的功能，无需传统ATE的测试向量。SLT 通过运行系统软件来检查芯片的各个模块，提供了更加贴近真实应用场景的测试方法。SLT 的显著优势在于其能够揭示在传统的ATE测试中可能被忽略的故障，特别是在处理复杂系统级芯片（SoC）和系统级封装时。随着半导体技术的不断进步和产品质量要求的日益提高，SLT 的应用变得越来越广泛，其在确保芯片质量和可靠性方面的作用愈发突出。