9月27日，第三届GMIF2024创新峰会将在深圳湾万丽酒店举办，本届峰会以“AI驱动，存储复苏”为主题，将围绕存储器市场复苏与AI新兴应用市场带动下的产业格局与趋势，分享前沿技术与最新产品，探讨产业链上下游如何协同创新，构建合作共赢的产业生态。
先进的测试算法与高性能测试设备是存储产业发展不可或缺的支撑。它们不仅决定了存储芯片能否满足当今数据密集型应用的需求，还直接影响到产品的良率与上市速度。优秀的测试算法能够准确识别芯片中的潜在缺陷，而高效的测试设备则能大幅提高生产效率，确保每一片存储芯片都能在性能和可靠性上达到最高标准。因此，半导体测试技术的进步对于整个存储产业的发展起着至关重要的作用。
态坦测试的首席技术官（CTO）徐永刚博士，将在即GMIF2024上带来题为《新趋势下的存储芯片老化测试》的主题演讲，全面解析当前半导体存储与测试市场的现状，并分享态坦测试在多个先进芯片测试设备领域的技术与战略布局。态坦测试一直致力于攻克先进ATE（自动测试设备）架构BI（Burn-In，老化测试）测试设备中的关键技术难题，如高速通信系统、复杂算法图形生成等。通过不懈努力，公司成功研发出了一系列高性能、高集成度且具有高性价比的存储BI测试设备解决方案，实现国产半导体设备技术的突破，满足日益复杂的存储芯片所需求的高速测试方案。
