TA0200 系列
高兼容性高效率的ATE测试方案
TA0201是一款是针对存储器的集成电路测试所特别设计的测试系统，可以在工程和量产的测试环境中使用；助力客户的产品在解决Open-Short、LeakageDC参数测试、Check ID等方面，快速实现芯片的测试筛选方案。
TA0201是一款是针对存储器的集成电路测试所特别设计的测试系统，可以在工程和量产的测试环境中使用；助力客户的产品在解决Open-Short、LeakageDC参数测试、Check ID等方面，快速实现芯片的测试筛选方案。