TB7500
存储芯片高集成高速测试量产方案
针对DRAM颗粒的量产老化测试系统,最高测试速率为200 MHz/400Mbps
TL2900
高速大并测DDR SLT测试机
支持高UPH高测试频率的LPDDR SLT测试设备,内置态坦自研的丰富测试Pattern库
TB7300
全新ATE架构下的通用型低速老化测试系统
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