TB7500系列
高集成性高速测试的量产方案
针对DRAM颗粒的量产老化测试系统,最高测试速率为200 MHz/400Mbps
态坦 TL2910系列
高速和大并测的SLT测试机
支持高UPH高测试频率的LPDDR SLT测试设备,内置态坦自研的丰富测试Pattern库
TB7300系列
全新ATE架构下的通用型低速老化测试系统
TS1930系列
全新一站式Gen5 SSD全功能测试系统
PCIe5.0 SSD测试系统方案,支持消费级/企业级 256DUT SSD量产生产测试。
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定制化开发
工程定制服务
(全技术栈开发能力)
生产规划
生产路线规划服务
(从零到量产导入)
产线整体追溯
生产解决方案服务
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